用途：PLS Plus激光微地貌掃描儀基于三角測(cè)量原理測(cè)量地表微地貌高程，采用激光掃描獲取各點(diǎn)高程，測(cè)量精度可以達(dá)到亞毫米級(jí)，測(cè)量過(guò)程無(wú)需接觸土壤表面，解決了測(cè)針?lè)▽?duì)土表擾動(dòng)的弊端，測(cè)量結(jié)果更可靠，能準(zhǔn)確反映地表微地貌的細(xì)微變化。

原理及應(yīng)用：利用線性激光的反射與CCD成像原理，將地表形態(tài)轉(zhuǎn)換成不同物象點(diǎn)位置的電信號(hào)，再經(jīng)計(jì)算機(jī)軟件處理成數(shù)字高程模型（DEM），進(jìn)而評(píng)價(jià)土壤侵蝕程度或進(jìn)行相關(guān)機(jī)理研究。相對(duì)于PLS第一代產(chǎn)品，掃描速度更快，精度更高，采用筆記本電腦采集數(shù)據(jù)，野外使用更加方便。

應(yīng)用領(lǐng)域：

■土表微地貌特征評(píng)價(jià)指標(biāo)篩選與算法實(shí)現(xiàn)

■連續(xù)降雨過(guò)程中土表微地貌特征演變

■不同粗糙度土表粗糙度模型建立

■不同坡度剖面侵蝕及侵蝕泥沙分布

實(shí)測(cè)圖：

技術(shù)參數(shù)：

■剖面分辨率：0.5 mm

■垂直分辨率：0.1 mm

■測(cè)量寬度：60 cm

■測(cè)量長(zhǎng)度：最大3 m

■每分鐘可掃描大于400個(gè)剖面

■實(shí)驗(yàn)室和野外都可使用

■沒(méi)有土壤類型限制

■數(shù)據(jù)為XYZ 高程或矩陣數(shù)據(jù)

儀器配置：

產(chǎn)地：美國(guó)